一種基于硅直通孔的三維集成系統(tǒng)熱解析方法(預(yù)披露)
一種基于硅直通孔的三維集成系統(tǒng)熱解析方法
一、成果基本信息
成果基本信息 | 成果名稱 | 一種基于硅直通孔的三維集成系統(tǒng)熱解析方法 |
成果所屬單位 | 貴州大學(xué) | |
成果所屬領(lǐng)域 | 新能源與節(jié)能 | |
成果關(guān)鍵詞 | 三維集成;硅直通孔;熱解析模型; | |
成果所屬學(xué)科 | 電子科學(xué)與技術(shù) | |
交易方式 | 面議 |
二、成果簡介
本發(fā)明公開了一種基于硅直通孔的三維集成系統(tǒng)熱解析方法,它包括將三維集成系統(tǒng)分解成單個(gè)功率元胞,在該功率元胞中,考慮硅通孔橫向熱阻和縱向熱阻的影響,建立分段熱阻模型;根據(jù)基爾霍夫定律得出包含上下層芯片溫度的矩陣方程;根據(jù)傳熱學(xué)中熱阻表達(dá)方式,建立熱阻R1~R8的表達(dá)式;將熱阻R1~R8的表達(dá)式代入包含上下層芯片溫度的矩陣方程中求解關(guān)于溫度T的方程組,從而得到三維集成系統(tǒng)中各層芯片的溫升情況;解決了現(xiàn)有技術(shù)對維集成系統(tǒng)的熱解析采用一維熱阻模型,它只考慮三維集成系統(tǒng)的縱向傳熱而沒有考慮三維集成系統(tǒng)TSV的橫向熱阻問題,使得三維集成系統(tǒng)的熱可靠性差等問題。
三、成果轉(zhuǎn)化預(yù)期:
可為三維集成電路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和制造提供理論指導(dǎo),幫助提高三維集成電路的質(zhì)量和可靠性。
特別聲明
1.本公告僅對成果進(jìn)行推介,接受意向方咨詢與洽談,以上介紹中的內(nèi)容僅供參考。
2.貴州陽光產(chǎn)權(quán)交易所通過自身網(wǎng)站及相關(guān)媒體發(fā)布的項(xiàng)目信息并不構(gòu)成貴州陽光產(chǎn)權(quán)交易所對任何項(xiàng)目的任何交易建議。意向方應(yīng)不依賴于已披露的上述信息并自行對項(xiàng)目的相關(guān)情況進(jìn)行必要的盡職調(diào)查和充分了解。
項(xiàng)目聯(lián)系人 :趙經(jīng)理
聯(lián) 系 電 話:15085914974